type：Quanta-250

manufacturing company：czech FEI

主要配置：二次电子探测器，背散射电子探测器，AZtec X-Max  20型X射线能量色散谱仪（EDS）(英国Oxford)，控温样品台（－20～50℃），喷金仪，喷碳仪。

主要技术指标：二次电子像分辨率：高真空模式：≤3.0nm（30kV），低真空模式：≤10.0nm（3kV），环境扫描模式：≤3.0nm  （30kV）；背散射电子像分辨率:  4.0 nm (30 kV,  高真空/低真空)；加速电压：0.2～30  kV；EDS：M_n的K_α的分辨率优于127eV，可测元素范围⁴Be～⁹⁸Cf。

主要用途：金属、陶瓷、聚合物和复合材料等表面或断面微区形貌分析；生物样品或含水样品表面微区形貌分析（样品可无需表面处理，在保持原状的情况下进行观察和分析）；微粒、多孔材料或纤维形状观察及其尺寸分析；固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。